近日，中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)理化科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心發(fā)布儀器上新公告，掃描電子顯微鏡SEM3100完成調(diào)試，各項(xiàng)指標(biāo)符合要求，投入試運(yùn)行。該款掃描電鏡由國(guó)儀量子自主研發(fā)，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)*、擴(kuò)展性強(qiáng)、用戶體驗(yàn)佳，將為“中心"提供高性能的檢測(cè)分析工具，也為國(guó)產(chǎn)科學(xué)儀器的發(fā)展起到示范作用。國(guó)儀量子掃描電鏡SEM3100交付現(xiàn)場(chǎng)試運(yùn)行期間免費(fèi)，有測(cè)試需求的老師和同學(xué)請(qǐng)與機(jī)組聯(lián)系。
詳見(jiàn)公眾號(hào)國(guó)儀量子+
中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)理化科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心是中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)公共技術(shù)創(chuàng)新平臺(tái)實(shí)驗(yàn)中心之一，從1979年開(kāi)始籌建。中心以“集中投入、統(tǒng)一管理、開(kāi)放公用、資源共享"為建設(shè)原則，以建立條件優(yōu)良、功能配套、管理規(guī)范、先進(jìn)高效的優(yōu)質(zhì)資源和共享機(jī)制為建設(shè)目標(biāo)，為培養(yǎng)創(chuàng)新人才和開(kāi)展高水平科學(xué)研究工作提供技術(shù)支撐，為社會(huì)經(jīng)濟(jì)建設(shè)提供技術(shù)保障。作為學(xué)校最早建成的大型儀器開(kāi)放平臺(tái)，中心不僅承擔(dān)著相關(guān)院系、國(guó)家研究中心、國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室，省部級(jí)實(shí)驗(yàn)室以及國(guó)家、省部級(jí)等各類科研項(xiàng)目的技術(shù)支持分析測(cè)試任務(wù)，同時(shí)，也對(duì)相關(guān)學(xué)科提供教學(xué)、科研實(shí)驗(yàn)條件與環(huán)境。中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)理化科學(xué)實(shí)驗(yàn)中心國(guó)儀量子鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3100國(guó)儀量子鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3100是一款高性能的掃描電子顯微鏡，擁有可達(dá)3nm分辨率和出色的成像質(zhì)量。放大倍率連續(xù)可調(diào)，在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高亮度的清晰圖像。大景深，成像富有立體感。配備的超大樣品倉(cāng)和低電壓模式，可容納最大直徑為370 mm的樣品，極大地?cái)U(kuò)展了SEM3100的應(yīng)用范圍。掃描電子顯微鏡不只用于表面形貌的觀察，還可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。SEM3100擁有超大的樣品倉(cāng)，接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測(cè)器（ETD）、背散射電子探測(cè)器（BSED）、能譜儀（EDS）外，也預(yù)留了諸多接口，諸如電子背散射衍射（EBSD）、波譜儀（WDS）、陰極熒光（CL）等探測(cè)器都可以在SEM3100上進(jìn)行集成。二次電子成像和背散射成像對(duì)比。背散射像下，樣品的荷電效應(yīng)明顯減弱，并且具有很好的成分襯度，適合進(jìn)行成分觀察。水泥建筑材料SE和EDS分析結(jié)果，加速電壓15kV*微量Au元素為噴金后的鍍層。SEM3100具有人性化的軟件設(shè)計(jì)，純中文的操作界面，功能設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單易懂。無(wú)論是否有經(jīng)驗(yàn)的用戶，簡(jiǎn)單的了解后都可以快速上手。此外，SEM3100還具有30分鐘自動(dòng)休眠、換樣方便、燈絲狀態(tài)自動(dòng)監(jiān)測(cè)、優(yōu)中心樣品臺(tái)和真空電機(jī)、防碰撞和三級(jí)減震等人性化設(shè)計(jì)，全面提升用戶的操作體驗(yàn)。了解更多SEM3100應(yīng)用案例，可點(diǎn)擊主頁(yè)進(jìn)行更多閱讀
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